【導(dǎo)讀】薄膜電阻在使用過程中，隨著工作時間的增加，電阻的阻值會發(fā)生飄移，進(jìn)而對整個電路系統(tǒng)的性能造成影響。為了能夠確定電子產(chǎn)品在整個生命周期中的公差，有時希望對“最壞情況下” 薄膜電阻阻值的飄移變化程度有一個準(zhǔn)確的估算。我們今天就為大家分享一個快速而準(zhǔn)確的計(jì)算方法。
如何根據(jù)薄膜的運(yùn)行時間，來計(jì)算或估算最壞情形下薄膜電阻值的飄移變化？
可以使用阿倫尼烏斯方程（Arrhenius equation）來估算電阻器的漂移（老化）。例如，你可以在 Vishay 的 TNPW e3 數(shù)據(jù)表的第 2 頁上，找到“額定耗散下的最大電阻變化”表。
如上圖所示，阻值的最大改變百分比會因不同的工作模式而變化。
使用下面給出的阿倫尼烏斯方程式，客戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)表中所示的指定電阻變化來估算電阻漂移：
我們舉一個例子來說明————假設(shè)在應(yīng)用中運(yùn)行了 15,000 小時，則可以按如下所述估算漂移：
數(shù)據(jù)表中的參數(shù)（標(biāo)準(zhǔn)工作模式）如下所示————要求在 P70 下運(yùn)行 15,000 小時，因此在 70°C 的環(huán)境溫度下為滿負(fù)荷：
對于電阻值漂移的估算如下：
如果客戶希望采用最壞情況下的阻值變化率來計(jì)算終端產(chǎn)品的生命周期公差，則可以將其設(shè)計(jì)中可能發(fā)生的所有變化相加在一起——即使實(shí)際的電阻變化可能較低。
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