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【“源”察秋毫系列】纖維器件及其陣列電學測試方案詳解
使用電壓表或SMU源表等測試設備（如數字多用表的電壓測量檔等），將電壓表的探頭與纖維電學器件的兩個輸出電極相連接，確保連接牢固且接觸良好，以減少接觸電阻對測量結果的影響。當纖維電學器件處于工作狀態（如受到特定刺激，像壓電纖維器件受到外力作用、光電器件受到光照等）或在特定的電路環境下運行時，電壓表會實時顯示出器件兩端的電位差，即輸出電壓值。
2024-12-02
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半導體參數分析儀的FFT分析
傅立葉分析可以將時域信號與頻域信號進行轉換?？焖俑盗⑷~變換（FFT）計算在獲取時間相關的直流信號（如電流、電壓）并將其轉換為頻率和基于交流的參數，如電流譜密度、1/f噪聲、熱噪聲和交流阻抗）時非常有用。源測量單元 （SMU）和脈沖測量單元（PMU）是4200A-SCS參數分析儀的模塊，用于在時域測量和加載輸出電流或電壓。儀器對這些基于時間的測量可以通過FFT計算轉換為頻域的參數。
2024-08-07
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新型SMU克服低電流容性設置的棘手測試挑戰
在測試設置中使用長電纜或容性卡盤時，測試儀器輸出的電容會提高，導致測量不準確或不穩定，尤其是非常靈敏的弱電測量，因為它同時還要提供或掃描DC電壓。為解決這些挑戰，泰克科技旗下公司吉時利為Keithley 4200A-SCS推出了兩種新的源測量單元(SMU)模塊，即使在高測試連接電容的應用中，仍能進行穩定的弱電測量。
2021-12-24
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如何實現多通道SMU源測量單元？這里有一款實用解決方案~
實現一款高集成度、精密、較大功率的多通道源測量單元（SMU）需要突破哪些設計難點？要實現全象限的Force Voltage / Measure & Clamp Current以及Force Current / Measure & Clamp Voltage的功能，如果要使用離散器件搭建整個控制環路，無疑是非常復雜的。
2021-04-01
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【當代材料電學測試】系列之四：寬禁帶材料測試
材料性質的研究是當代材料科學的重要一環，所謂材料的性質是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料對電、磁、光、熱、機械載荷的反應。源表SMU 在當代材料科學研究中，起到舉足輕重的作用，選擇適合某類材料電性能測試的SMU，如何降低測試誤差，測試中應當注意什么，這些問題都需要重點關注。
2021-03-26
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【當代材料電學測試課堂】系列之一： 納米測試（上）
材料性質的研究是當代材料科學的重要一環，所謂材料的性質是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料對電、磁、光、熱、機械載荷的反應。源表SMU 在當代材料科學研究中，起到舉足輕重的作用，選擇適合某類材料電性能測試的SMU，如何降低測試誤差，測試中應當注意什么，這些問題都需要重點關注。
2021-03-15
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RL電路的瞬態響應
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMU ADALM1000 之后，我們希望將該系列續寫下去，介紹一些小的基本測量。本實驗活動的目標是通過脈沖波形研究串聯RL電路的瞬態響應并了解時間常數的概念。
2021-01-13
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什么是相位，我們為何要關心相位？
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMU ADALM1000 之后，我們希望進行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第六部分。本實驗活動的目標是了解何謂信號之間的相位關系，以及理論在何種程度上與實踐吻合。
2021-01-13
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戴維寧等效電路和最大功率傳輸
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMUADALM1000之后，我們希望進行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第三部分。本實驗活動的目的是通過獲得給定電路的戴維寧等效電壓(VTH)和戴維寧等效電阻(RTH)來驗證戴維寧定理，然后驗證最大功率傳輸定理。
2021-01-12
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RC電路的瞬態響應
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMUADALM1000之后，我 們希望進行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第四部分。本實驗活動的目標是通過脈沖波形研究串聯RC電路的瞬態響應并 了解時間常數的概念。
2021-01-12
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支持千倍以上負載電容的靈敏測試
使用長電纜或電容夾頭的測試設置會增加測試儀器輸出的電容，導致測量結果不準確或不穩定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時，能觀察到這種效應。為了應對這些挑戰，泰克為吉時利4200A-SCS參數分析儀引入了兩個新的源測量單元（SMU）模塊，即使在測試連接電容較高的應用中，該模塊也可以進行穩定的低電流測量。
2020-02-14
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【4200 SMU應用文章】之實例篇：高測試連接電容下穩定測試弱電流
源測量單元(SMU)是一種可以提供電流或電壓，并測量電流和電壓的儀器。SMU用來對各種器件和材料進行I-V表征，是為測量非常靈敏的弱電流，同時提供或掃描DC電壓而設計的。但是，在擁有長電纜或其他高電容測試連接的測試系統中，某些SMU可能不能在輸出上容忍這樣的電容，從而產生有噪聲的讀數和/或振蕩。
2019-12-10
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